我司将于2023年2月1日(星期三)~3日(星期五)参加在韩国・首尔举行的SEMICON KOREA 。
本届展会,我司主要展出面向super-precision Ultra Fine JIG, Probe Card, IGBT/SiC module inspection device展示 。
根据客户的需求,提供最合理的检测解决方案是我们的使命。敬请各位莅临我司展位。

主要展示内容

・IGBT/SiC 模块绝缘性/静特性/动特性检查装置「NATS-1000」
・Ultra Fine JIG
・MEMS Probe Card
・CMOS Image Sensor Probe Card


展会概况

时间

2023年2月1日(星期三)~3日(星期五)

地点 COEX
展位 B634
官网

https://www.semiconkorea.org/